| Detailed information |
| Original study plan |
Study Information Electronics 2009W |
| Objectives |
(*)Kennenlernen von wissenschaftlichen Apparaturen, die für die Halbleiterphysik relevant sind; selbständige Durchführung von Messungen und deren Auswertung; Herstellung von Proben; Abfassen von Protokollen; Vertiefen von Lehrinhalten aus der Vorlesung Halbleiterphysik
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| Subject |
(*)Röntgenbeugung zur Bestimmung von Schichtdicken und Kristallitgrößen; Herstellung von Kontakten mit Lithographieverfahren; elektrische und optische Charakterisierung von Halbleiter Bauelementen; Mikroskopische Untersuchungen an Halbleiterstrukturen
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| Criteria for evaluation |
(*)Durchführung der Aufgaben, Qualität des Protokolls, Wissen bei der Nachbesprechung
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| Methods |
(*)Einführung in den Umgang mit wissenschaftlichen Apparaturen, Betreute Durchführung von Experimenten, Anleitung zur Auswertung der experimentellen Resultate, Überprüfung der Lehrinhalte
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| Language |
German, english on demand |
| Study material |
(*)Anleitungen, die vor Durchführung zur Verfügung gestellt werden
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| Changing subject? |
No |
