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[ TPMWTVOAODS ] VL Analytik von Oberflächen und dünnen Schichten

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Es ist eine neuere Version 2023W dieser LV im Curriculum Masterstudium Physics 2024W vorhanden.
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Workload Ausbildungslevel Studienfachbereich VerantwortlicheR Semesterstunden Anbietende Uni
3 ECTS M2 - Master 2. Jahr Physik Lidong Sun 2 SSt Johannes Kepler Universität Linz
Detailinformationen
Quellcurriculum Masterstudium Technische Physik 2014W
Ziele (*)You will learn the principle and practical techniques to analyze the physical and chemical properties of surfaces and thin films with spatial resolution down to atomic scale.
Lehrinhalte (*)The lecture introduces the effects and the mechanisms of:
1) electron-surface interactions
2) photon-surface interactions
3) atom/molecule-surface interactions
4) ion-surface interactions
in conjunction with their application in analysis of surface and thin films.
Beurteilungskriterien (*)Presentation on the selected topics related to lecture or oral exam (dates by arrangement).
Lehrmethoden (*)Lecture and case study
Abhaltungssprache Englisch
Literatur (*)John C. Vickerman, Surface Analysis – The Principle Techniques, HOHN WILLEY & SONS 1997.
Kenjiro Oura et al, Surface Science – An Introduction, Springer-Verlag 2002.
Transparencies available (KUSSS).
Additional study material for case study
Lehrinhalte wechselnd? Nein
Sonstige Informationen (*)Basic course for Master and PhD students interested in Surface science, Nano- and Materials Science.
Präsenzlehrveranstaltung
Teilungsziffer -
Zuteilungsverfahren Direktzuteilung